Commutazione induttiva non vincolata (UIS)

Tester per commutazione induttiva non vincolata (UIS)

Il generatore ad alta velocità per commutazione induttiva non vincolata (UIS) è specificamente progettato per il test rapido in produzione dell’energia nominale di valanga dei dispositivi discreti di potenza.
Progettato per testare l’ampia area operativa in valanga dei dispositivi MOSFET discreti di ultima generazione, il nostro generatore UIS offre una sorgente di corrente programmabile da 1 A a 200 A per tensioni di valanga da 10 V a 2300 V, con valori di induttanza programmati internamente da 12,5 H a 25,5 mH.
L’acquisizione delle forme d’onda a doppio canale, con risoluzione a 12 bit e 25 ns, consente di caratterizzare completamente il dispositivo in meno di 200 ms, con un’ulteriore modalità rapida di test di produzione GO/NO-GO.
Una nuova modalità di interruzione al raggiungimento dell’energia impostata termina il test in valanga quando viene raggiunto il valore programmato di energia di valanga.

Testa di test UIS

La testa di test remota compatta integra funzioni di misura e un’uscita commutata, consentendo di eseguire test su diversi tipi di package a 3 pin, incluse le configurazioni a doppio diodo. La presenza di una performance board nella testa di test consente di programmare condizioni di test personalizzate e specifiche per l’applicazione.
L’architettura del sistema Cosmic consente di integrare fino a otto generatori di test indipendenti in un unico sistema. Questi possono essere raggruppati e assegnati a handler o prober tramite un massimo di quattro interfacce di controllo. Ogni generatore di test è un tester autonomo specifico per l’applicazione, dotato di doppio microcontrollore (per la memorizzazione e l’esecuzione dei piani di test), convertitore A/D a 16 bit, quattro convertitori D/A e funzione di autodiagnosi automatica.

Test UIS

Corrente programmabile da 1 A a 200 A
Induttori di carico programmabili da 12,5 H a 25,5 mH
Tensione di valanga da 10 V a 2300 V
Energia di valanga ripetitiva da 300 mJ a 30 J
Acquisizione delle forme d’onda di corrente e tensione a 12 bit con risoluzione fino a 25 ns
Protezione da sovracorrente e sovratensione
Test rapido Go/No-Go
Modalità di interruzione al raggiungimento dell’energia impostata