CYGNI

I datasheet dei semiconduttori di potenza specificano un insieme di parametri parassiti a piccolo segnale: capacità di ingresso, di uscita e di trasferimento inverso, capacità gate-source e resistenza di gate. Verificarli con un comune misuratore LCR richiede configurazioni a quattro terminali, quattro ricablaggi e quattro correzioni separate del fixture; inoltre, i risultati continuano a non corrispondere a quelli del tester di produzione utilizzato per lo screening dei dispositivi in grandi volumi.

Cygni colma questo divario. È un ponte digitale auto-bilanciante che richiede un solo ciclo di calibrazione e misura l’intero set di parametri parassiti con un unico inserimento del dispositivo, da 100kHz a 5MHz, con bias di drain programmabile fino a 3kV per consentire la caratterizzazione della capacità sull’intero intervallo di tensione del DUT. Poiché la misura viene effettuata nel punto di null del ponte, la risoluzione di fase necessaria per l’estrazione della resistenza di gate è fisicamente disponibile per architettura di misura, consentendo misure più sensibili.

Nelle installazioni di produzione, le misure vengono eseguite in meno di 30ms in modalità ad alta velocità e lo strumento è progettato per occupare uno spazio minimo nell’handler, con un’altezza di appena 60mm e la possibilità di utilizzare una connessione DUT soft-dock o hard-dock.

Il controllo avviene tramite il System Software basato su Linux di Cosmic, che automatizza l’intera cella di test di produzione, sia per wafer sorting, KGD o test di dispositivi in package. Per applicazioni di caratterizzazione, l’interfaccia è disponibile tramite LAN compatibile LXI con comandi SCPI oppure attraverso una completa interfaccia web embedded stand-alone che non richiede l’installazione di alcun software.